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TOKAMAK光譜診斷與我們的產(chǎn)品

更新更新時間:2019-01-31 點擊次數(shù):2458

TOKAMAK光譜診斷與我們的產(chǎn)品

               ——從中子,X-ray到可見光,從穩(wěn)態(tài)測量到超高速時間分辨測試

 

托卡馬克(Tokamak)是一種利用磁約束來實現(xiàn)受控核聚變的環(huán)形容器,初是由蘇聯(lián)庫爾恰托夫研究所的阿齊莫維齊等人在20世紀(jì)50年代發(fā)明的。托卡馬克的中央是一個環(huán)形的真空室,外面纏繞著線圈,在通電的時候會產(chǎn)生巨大的螺旋型磁場,將真空室中的等離子體加熱到很高的溫度,以達(dá)到發(fā)生核聚變反應(yīng)所需的條件。

 

托卡馬克裝置中等離子體溫度可以達(dá)到幾千萬甚至上億攝氏度,從X射線到微波波段均有很強的輻射。聚變等離子體的輻射探測,特別是從X射線到可見光波段的發(fā)射光譜診斷,是發(fā)展比較早的診斷項目之一。從電子在躍遷前后的狀態(tài)來看,聚變等離子體發(fā)射的光譜可分類為:

自由態(tài)→自由態(tài):軔致輻射、回旋輻射

束縛態(tài)→束縛態(tài):線輻射

自由態(tài)→束縛態(tài):復(fù)合輻射、雙電子輻射

其中軔致輻射、復(fù)合輻射和雙電子輻射是連續(xù)譜,回旋輻射和線輻射是線狀譜。復(fù)合輻射和雙電子輻射有時合稱復(fù)合輻射。等離子輻射的線狀譜線主要來自雜質(zhì)離子。在小型裝置上,等離子體線輻射主要是低 Z 的輕雜質(zhì),而在大中型裝置上,線輻射則主要來自未*電離的高 Z 金屬雜質(zhì)離子。

 

在等離子體參數(shù)較低的小型托卡馬克裝置上,等離子體的輻射主要位于真空紫外和可見光波段。下圖為捷克一個小托卡馬克裝置 CASTOR 中的等離子體發(fā)射光譜,主要在真空紫外和可見光波段。其線狀譜主要是 O,NC 的雜質(zhì)譜線。從等離子體發(fā)射光譜圖上可以較為容易地辨別等離子體中雜質(zhì)的種類和電離狀態(tài)。以 C 為例,譜線上標(biāo)志的光譜符號和相應(yīng)的電離態(tài)的關(guān)系如下表所示:

 

而在大中型裝置上,等離子體輻射逐漸向短波移動,主要探測區(qū)域為紫外、真空紫外和 X 射線。在大中型裝置上,芯部區(qū)域的 C、N和 O等輕雜質(zhì)離子的外層電子被*剝離。而高Z金屬雜質(zhì)離子由于電離能較高,并未*電離,仍可以在較短波段(紫外和X射線波段)觀測到其輻射的線狀譜線。不同區(qū)域的光譜行為和主要探測項目也有所不同。這些波段的范圍、分光方法、探測元件可見下圖:

國內(nèi)的合肥,武漢,成都等地的科研單位也運行著多個托卡馬克裝置。坐落在合肥的中科院等離子體物理研究所的EAST裝置是目前國內(nèi)大的一個托卡馬克,其多項等離子體放電指標(biāo)均處于先進(jìn)水平。在上,中美歐日韓印俄七方共同參與的超大型合作項目熱核實驗堆(ITER)計劃已經(jīng)進(jìn)入工程建造階段,目前進(jìn)展順利。

我們的相關(guān)儀器設(shè)備在托卡馬克等離子體光譜診斷領(lǐng)域有著大量的應(yīng)用,目前已經(jīng)應(yīng)用我們產(chǎn)品的的診斷系統(tǒng)包含:

  • 電荷符合交換光譜(CXRS)診斷
  • 湯姆遜(Thomson)散射
  • 運動斯塔克(Stark)效應(yīng)診斷
  • 中性束注入主動光譜診斷
  • 磁流體動力學(xué)(MHD)真空紫外成像診斷
  • 用于測量邊界旋轉(zhuǎn)的邊界被動光譜診斷系統(tǒng)

我們可以用于托卡馬克等離子體光譜診斷的設(shè)備包括:

  • 傳統(tǒng)CT光譜儀用于可見與NIR波段以及多道成像光譜
  • >=1m長焦距高分辨光譜儀用于高分辨與多道成像光譜
  • 真空紫外光譜儀
  • ICCD用于時間分辨光譜與影像
  • iSCMOS快速讀出ICCD
  • EMCCD微弱信號探測增強型CCD
  • High Speed ICCD高速ICCD,讀出速度可以達(dá)到10000f/s以上,并且具備時間分辨能力
  • MCP粒子探測器可以用于真空粒子探測
  • 基于中階梯的LIBS探測系統(tǒng)
  • 傳統(tǒng)X-ray CCD探測器
  • 單光子計數(shù)X-ray探測器
  • 條紋相機用于超快過程研究
  • 高速相機用于高速現(xiàn)象研究

用于測量邊界旋轉(zhuǎn)的邊界被動光譜診斷與獲得的多道光譜圖像(100道)

 

中性注入光譜診斷測量得到的可見光波段光譜

 

基于大面積PILUTUS探測器的X射線彎晶譜儀測量到的原始譜線圖像

不同的診斷可以測量不同的等離子體參數(shù)。按照診斷種類不同,我們有不同推薦使用的設(shè)備:

測量參數(shù)

診斷系統(tǒng)名

測量區(qū)域

推薦設(shè)備

雜質(zhì)離子溫度

X射線彎晶譜儀

電荷符合交換光譜

邊界被動光譜診斷

芯部

邊界和芯部

邊界

 

 

EMCCD

>=1m長焦距高分辨光譜儀

主離子溫度

中子診斷系統(tǒng)

電荷符合交換光譜

邊界被動光譜診斷

芯部

邊界和芯部

邊界

中子成像探測器

 

EMCCD

>=1m長焦距高分辨光譜儀

電子溫度

湯姆遜散射診斷

電子回旋輻射診斷

X射線彎晶譜儀

邊界朗繆爾探針

邊界和芯部

芯部

芯部

刮削層區(qū)

iSCMOS / 超高速ICCD

電子密度

HCN激光反射儀

湯姆遜散射診斷

二氧化碳散射

微波反射儀

邊界朗繆爾探針

邊界和芯部

邊界和芯部

 

邊界

邊界

 

像增強器 & ICCD & 光譜儀等

環(huán)向雜質(zhì)旋轉(zhuǎn)速度

X射線彎晶譜儀

電荷符合交換光譜

邊界被動光譜診斷

芯部

邊界和芯部

邊界

 

EMCCD

>=1m長焦距高分辨光譜儀

EMCCD

環(huán)向主離子旋轉(zhuǎn)速度

X射線彎晶譜儀

電荷符合交換光譜

邊界磁探針

邊界

邊界和芯部

安全因子q=1詞磁面

PILATUS探測器

EMCCD

 

向雜質(zhì)旋轉(zhuǎn)速度

邊界被動光譜診斷

 

 

電荷符合交換光譜

邊界

 

 

邊界和芯部

EMCCD

>=1m長焦距高分辨光譜儀

EMCCD

雜質(zhì)密度

邊界被動光譜診斷

 

 

電荷符合交換光譜

X射線彎晶譜儀

紫外真空紫外譜儀

邊界

 

 

邊界和芯部

芯部

芯部

EMCCD

>=1m長焦距高分辨光譜儀

EMCCD

 

真空紫外光譜儀系統(tǒng)

美國McPherson長焦距光譜儀

 

美國McPherson公司真空紫外光譜儀

英國Photek公司像增強器與MCP真空成像探測器

 

Dectris-PILATUS系列單光子X射線探測器

 

快速讀出ICCD與超高速讀出ICCD(搭配Phantom公司高速讀出探測器) 

Andor公司傳統(tǒng)CT式光譜儀與EMCCD

 

基于Photonic Science公司中子成像ICCD拍攝到的中子成像實驗圖

CYCLOPS, A proposed high flux CCD neutron diffractometer, Physica B Condensed Matter 385:1052-1054 2005

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